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電學(xué)測試解決方案

BX3100數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)

● ATE類型:數(shù)字集成電路

● 操作方式:自動

● 應(yīng)用范圍:晶圓、芯片

● 適用測試:電源功耗、開短路、輸入漏電、輸出帶載能力、功能測試

● 適用場景:晶圓制造工廠、封裝測試工廠、芯片設(shè)計(jì)公司

應(yīng)用范圍:

MCU、Flash、LDO、ADC、DAC、Logic等芯片參數(shù)的CP、FT測試

主要特點(diǎn):

● 數(shù)字通道內(nèi)建PPMU/頻率測量單元

● Source/Capture向量

● 最高2GB 存儲深度 SCAN向量

● ALPG向量生成測試存儲芯片


設(shè)備參數(shù):

最大數(shù)據(jù)速率200Mbps
最大數(shù)字通道512(64*8)
器件電源數(shù)量32(16*2)
器件電源參數(shù)-10V~+10V/最大8A
參數(shù)測量電壓-1.5V~+6.5V/精度10mV
參數(shù)測量電流

±2uA/±20uA/±200uA±2mA/±50mA


機(jī)械&電氣規(guī)格:

機(jī)械規(guī)格

外尺寸(測試頭)

520(W)*490 (L)*650(H)mm

凈重(測試頭)

approx.70kg

毛重(測試頭)

approx.100kg


電氣規(guī)格

能量功耗

3000W

工作電壓

200~240VAC 50/60Hz



珠海博杰電子股份有限公司

測試及自動化專家