應(yīng)用范圍:
MCU、Flash、LDO、ADC、DAC、Logic等芯片參數(shù)的CP、FT測試
主要特點(diǎn):
● 數(shù)字通道內(nèi)建PPMU/頻率測量單元
● Source/Capture向量
● 最高2GB 存儲深度 SCAN向量
● ALPG向量生成測試存儲芯片
設(shè)備參數(shù):
最大數(shù)據(jù)速率 | 200Mbps |
最大數(shù)字通道 | 512(64*8) |
器件電源數(shù)量 | 32(16*2) |
器件電源參數(shù) | -10V~+10V/最大8A |
參數(shù)測量電壓 | -1.5V~+6.5V/精度10mV |
參數(shù)測量電流 | ±2uA/±20uA/±200uA±2mA/±50mA |
機(jī)械&電氣規(guī)格:
機(jī)械規(guī)格 | |
外尺寸(測試頭) | 520(W)*490 (L)*650(H)mm |
凈重(測試頭) | approx.70kg |
毛重(測試頭) | approx.100kg |
電氣規(guī)格 | |
能量功耗 | 3000W |
工作電壓 | 200~240VAC 50/60Hz |